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如何在电子设备测试中优化电路设置?

来源:澳门合法搏彩网作者:发表时间:2017-12-13 09:51:14

 如何在电子设备测试中优化电路设置?

C电路类型
    许多人忘记了,当您将仪器添加到您的待测设备(DUT)时,它将成为电路的一部分。选择错误的电路设置会导致意想不到的测量问题。
    考虑下面的简单测量电路,其中DUT可以由两个不同的直流电路表征。在电路A中,电流源和电压被测量。在电路B中,电压源,电流被测量。对于大多数DUT电阻,任一电路将给出大致相同的答案。但是这个故事在DUT阻力值的极端变化。
图1.jpg
处理极端事件
    当DUT电阻非常高时,直接在DUT上测量电压(如电路A中所示)很困难,因为伏特计输入电阻与DUT电阻并联。这导致大部分电流通过仪表,减少了DUT电流并导致电压误差。
    改变设置到电路B解决了这个问题,但可能需要一个非常好的电流表来测量由于高DUT电阻产生的非常低的电流值。在这种情况下,一个实际的解决方案是切换到耦合到锁定放大器的交流电源,以避免“1 / f”噪声。
    低电阻也会带来测量挑战。对于这些器件,电路B需要高电流来将电压降降至可测量的数量;不幸的是,这最大化了设备的内部加热,改变了电阻。因此,电路A是低电阻器件的更好选择。
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